镀层厚度分析仪 iEDX-150T

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产品类型: 能量色散X荧光光谱分析设备
产品名称: 镀层厚度分析仪
型    号: iEDX-150T  (可同时具备镀液/RoHS/成分分析功能)

(一)产品优势
1.镀层检测,检测层数范围1-6层;检测镀液的元素含量范围为1ppm-99.99%。
2.全自动操作平台,平台移动范围可达160*160*100mm(X*Y*Z);
3.激光定位和自动多点测量功能;
4.检测的样品可以为固体、液体或粉末;
5.运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低;
6.可进行未知标样扫描、无标样定性、半定量分析;
7.操作简单、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速检测(5-40秒);
8.顶级配置:SDD探测器、牛津X射线管、SPELLMAN高压电源,仪器使用寿命长。
9.超高分辨率:125±5电子伏特(电子伏特越低分辨率越高,检测越精准,这是能谱仪一个非常关键的技术指标);
10.可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件;
11.软件终身免费升级;
12.无损检测,一次性购买标样可永久使用;
13.使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供全方位保姆式服务;
14.环保RoHS分析功能,实现镀层、环保和成份分析同时检测;
15.具有远程服务功能,在客户请求的情况下,可远程进行仪器维护;
16.RoHS规定的元素测试,待测物质的Cd\Cr\Pb\Hg元素,卤素要求的Cl\Br元素,八大有害重金属:铅:Pb、汞:Hg、镉:Cd、锑:Sb、硒:Se、砷:As、钡:Ba、铬:Cr。

(二)产品特征
1.高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)
2.计算机 / MCA(多通道分析仪)
2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)
3.Multi Ray. 运用基本参数法(FP)软件,对样品进行精确的镀层厚度分析,可对镀液进行定量分析。
4.MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析
励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
线性模式进行薄膜镀层厚度测量
相对(比)模式  无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多镀层厚度同时测量
单镀层应用 [如:Cu/ABS等]
双镀层应用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三镀层应用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四镀层应用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金镀层应 [如:Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]
5.Multi-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。
Multi-Ray 金属行业精确定量分析软件。可同时分析8种元素。最小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达±0.02%,贵金属(8-24 Karat) 分析精度可达±0.05kt
Multi-Ray. 对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。
6.Multi-Ray WINDOWS 7软件操作系统
7.完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数,趋势线,Cp 和 Cpk 因素等
8. 自动移动平台,用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量,自动多点分析。每个阶段的文件有最多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。
(三)软件界面:镀层软件分析图谱界面

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