镀层厚度分析仪 iEDX-100G

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产品类型: 能量色散X荧光光谱分析设备
产品名称: 镀层厚度分析仪
型    号: iEDX-100G  (可同时具备环保RoHS检测功能)
原 产 商: 韩国ISP公司

产品优势
1.镀层检测,检测层数范围1-3层;检测镀液的元素含量范围为1ppm-99.99%。
2.样品仓空间大 长*宽*高310 × 284 × 100 mm(W × D × H);
3.运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低;
4.操作简单、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速检测(5-40秒);
5.顶级配置:Si-pin探测器、超长寿命X射线管、超稳定性高压电源。
6.超高分辨率:135±5电子伏特(电子伏特越低分辨率越高,检测越精准,这是能谱仪一个非常关键的技术指标);
7.固定式对焦模式,无需调整焦距;
8.可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件;
9.软件终身免费升级;
10.无损检测,一次性购买标样可永久使用;
11.使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供全方位保姆式服务;
12.实现镀层和成份分析同时检测;
13.具有远程服务功能,在客户请求的情况下,可远程进行仪器维护;

产品特征
1.高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)
2.计算机 / MCA(多通道分析仪)
2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)
3.Multi Ray. 运用基本参数法(FP)软件,对样品进行精确的镀层厚度分析,可对镀液进行定量分析。
4.MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析
励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
线性模式进行薄膜镀层厚度测量
相对(比)模式  无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多镀层厚度同时测量
单镀层应用 [如:Cu/ABS等]
双镀层应用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三镀层应用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
5.元素分析:暂时不能分析元素H, He, Li, Be, B, C, N, O;

分析精度及稳定性:
1) Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, Ti, W, Au, Ag, Sn等重金属含量的检测限达10~20ppm,对这些金属测试分析稳定的读取允许差值本仪器已达到下列标准:
A. 检测含量大于5%的元素稳定的测试读取差值小于0.1%
B. 检测含量在0.5~5%的元素稳定的测试读取差值小于0.08%
C. 检测含量在0.1~0.5%的元素稳定的测试读取差值小于0.05%
D. 检测含量低于0.1%的元素测试读取变化率小于10%
2)Mg,Al, P, S, Si, As可做半定量检测。
6.Multi-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。
Multi-Ray 金属行业精确定量分析软件。可同时分析8种元素。最小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达±0.02%,贵金属(8-24 Karat) 分析精度可达±0.05kt
Multi-Ray. 对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。
7.应对新版中华人民共和国RoHS检测要求,欧盟及北美RoHS检测等要求标准,精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属,测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。EN71-3规定的八大重金属:铅:Pb、汞:Hg、镉:Cd、锑:Sb、硒:Se、砷:As、钡:Ba、铬:Cr。
8.完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数,趋势线,Cp 和 Cpk 因素等
9. 特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。
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